掃描電鏡可以測量樣品厚度嗎？
掃描電鏡（SEM）并不能直接測量樣品的厚度，因為 SEM 的成像原理是基于電子束與樣品表面相互作用后產生的二次電子。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-20
掃描電鏡（SEM）并不能直接測量樣品的厚度，因為 SEM 的成像原理是基于電子束與樣品表面相互作用后產生的二次電子。
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掃描電鏡（SEM）能看到的最小結構，取決于它的分辨率，而分辨率又受電子槍類型、加速電壓、樣品制備和探測模式等因素影響。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-20
在掃描電子顯微鏡（SEM）中，電子束與樣品相互作用會產生多種信號，不同的檢測模式對應不同的物理信息。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-18
掃描電鏡（SEM）之所以必須在真空環境下工作，主要有以下幾個原因：
MORE INFO → 行業動態 2025-08-18
掃描電鏡（SEM）的像差主要來自電子光學系統中電子束的聚焦與成像缺陷，常見的類型主要有以下幾類：
MORE INFO → 行業動態 2025-08-15
掃描電鏡（SEM）是能實現三維重構的，但它本身并不是直接拍 3D 圖像的，而是通過一系列手段間接獲得三維表面信息。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-15
在掃描電鏡（SEM）中，樣品充電主要發生在非導電或低導電材料表面，因為入射電子無法及時導走，逐漸積累形成靜電電荷，導致圖像亮度變化、漂移甚至失真。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-13
掃描電鏡（SEM）的樣品臺常見的運動方式主要包括以下幾類，每種運動方式都對應不同的調節需求：
MORE INFO → 行業動態 2025-08-13