在掃描電鏡（SEM）成像中，電荷效應主要出現在 非導電樣品或絕緣材料上，當電子束照射時，入射電子不能及時泄放，就會在樣品表面積累電荷，導致圖像發白、漂移甚至局部失真。要減少電荷效應，可以從以下幾個方面入手：

1. 樣品處理方法

導電鍍層：在樣品表面噴金、噴碳或濺射鉑，提高表面導電性，讓電荷及時泄放，是常用的辦法。

導電膠固定：用導電膠或導電銅帶將樣品與樣品臺電氣連接，形成泄放通路。

切割或打磨：減小表面粗糙度，有時能幫助電子均勻分布，降低局部電荷堆積。

2. 儀器參數優化

降低加速電壓：高電壓下入射電子穿透深，容易堆積，低電壓成像能減少電荷積累。

減小束流：降低探針電流，減少注入電子數量，從源頭減輕電荷效應。

增加掃描速度：加快掃描，避免在某一區域長時間停留。

使用環境掃描電鏡（ESEM）：在低真空或氣體環境下，電離氣體幫助中和樣品電荷。

3. 外加中和措施

電子/離子中和器：噴射低能電子或離子流中和表面電荷，常用于 FIB-SEM 或 ESEM 系統。

環境濕度控制：在低真空下適度引入水蒸氣分子，讓其電離后帶電粒子中和電荷。

4. 成像策略

選擇二次電子像和背散射像結合：二次電子像更容易受電荷效應干擾，必要時用背散射電子像補充。

逐步優化焦距和工作距離：電荷效應可能導致圖像漂移，分步調整可避免強烈失真。