在材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)和工業(yè)領(lǐng)域，掃描電子顯微鏡（SEM）是研究材料微觀結(jié)構(gòu)不可或缺的工具，它是一種利用電子束掃描樣品表面，通過檢測樣品表面反射或發(fā)射的電子信號(hào)來獲取圖像的高分辨率顯微鏡。自20世紀(jì)30年代問世以來，掃描電鏡技術(shù)不斷進(jìn)步，從開始的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備發(fā)展成為廣泛應(yīng)用于各個(gè)科學(xué)領(lǐng)域的工具。隨著技術(shù)的發(fā)展，掃描電鏡的外形和功能也在不斷變化，主要分為落地式和臺(tái)式兩大類。

探測器

臺(tái)式掃描電鏡和落地式掃描電鏡在探測器方面存在一定差異。臺(tái)式掃描電鏡的探測器在滿足基本掃描需求的同時(shí)，體積較小，便于安裝和調(diào)試。澤攸科技ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡集成了背散射電子探測器（BSE）和二次電子探測器（SE），適用于形貌觀測，結(jié)合EDS能譜探測器，用于成分分析，確保了廣泛的應(yīng)用范圍。此外，多種原位樣品臺(tái)讓ZEM系列適配各類原位實(shí)驗(yàn)需求，如原位拉伸、高溫、低溫等。

而落地式掃描電鏡的探測器尺寸較大，探測范圍更廣，適合進(jìn)行大樣品的掃描觀察，通常還配有陰極發(fā)光探測器(CL)、波長色散X射線能譜儀(WDS)、透射電子探測器(STEM)等。

環(huán)境適應(yīng)性

臺(tái)式掃描電鏡對安裝環(huán)境的要求相對較低，不挑樓層，對環(huán)境震動(dòng)、磁場強(qiáng)度、溫度濕度等沒有特別要求。ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡可以在普通的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中運(yùn)行，無需特殊的實(shí)驗(yàn)室改造，甚至放在產(chǎn)線旁或移動(dòng)車廂內(nèi)，搬運(yùn)方便，節(jié)省空間。

臺(tái)式掃描電鏡使用環(huán)境要求低

相比之下，落地式掃描電鏡體積較大，需要專門設(shè)立一間實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行安裝，對環(huán)境要求較高，需要保持恒溫恒濕、減震和抗磁場干擾等，以確保設(shè)備正常運(yùn)行。

落地式掃描電鏡安裝環(huán)境要求相對高

便攜性與靈活性

在便攜性上，臺(tái)式掃描電鏡具有明顯優(yōu)勢，體積通常只有傳統(tǒng)落地式掃描電鏡的20%左右。ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡占地面積小，對實(shí)驗(yàn)室空間要求較低，只需一張實(shí)驗(yàn)臺(tái)即可安裝。此外，ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡操作方便，學(xué)習(xí)簡單，非專業(yè)人士也可快速上手，配套軟件貫穿整個(gè)工作流程，從樣品導(dǎo)入、參數(shù)設(shè)置到成像分析，一站式便捷。

臺(tái)式掃描電鏡上手簡單靈活

相比之下，落地式掃描電鏡的操作則較為復(fù)雜，操作人員需要具備一定的專業(yè)知識(shí)和操作經(jīng)驗(yàn)。相對于臺(tái)式掃描電鏡，落地式掃描電鏡的操作更為復(fù)雜，需要經(jīng)過專業(yè)培訓(xùn)的操作員才能發(fā)揮其全部潛力。

落地式掃描電鏡的操作相對復(fù)雜

經(jīng)濟(jì)性

對于許多實(shí)驗(yàn)室和企業(yè)來說，臺(tái)式掃描電鏡在經(jīng)濟(jì)性方面具有顯著優(yōu)勢，因?yàn)榕_(tái)式掃描電鏡已能滿足大部分科研和教學(xué)需求。ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡的價(jià)格顯著低于落地式掃描電鏡，不僅購買成本較低，而且在日常維護(hù)和運(yùn)營上的花費(fèi)也更加經(jīng)濟(jì)。對于預(yù)算有限的教育機(jī)構(gòu)、小型實(shí)驗(yàn)室或需要快速回本的商業(yè)項(xiàng)目，ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡是具有吸引力的選擇。

而落地式電鏡的投資成本高昂，除了設(shè)備本身的價(jià)格外，還需要考慮安裝、維護(hù)以及運(yùn)行環(huán)境的額外開銷。

澤攸科技ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡

綜上，無論是臺(tái)式掃描電鏡還是落地式掃描電鏡，它們都在各自的領(lǐng)域內(nèi)發(fā)揮著不可替代的作用。用戶選擇哪種類型的掃描電鏡，需根據(jù)具體的科研需求、實(shí)驗(yàn)室條件以及預(yù)算進(jìn)行綜合考量。