透射電子顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡，可用于觀察樣品的內部結構和微觀特征。在TEM中，樣品桿（Sample Holder）是用來支持和裝載樣品的一個重要組件。樣品桿的工作方式可能會因不同的TEM設計和樣品類型而有所不同，但其基本原理是支持和定位樣品，以便電子束可以穿透樣品并形成透射電子顯微圖像。

以下是透射電子顯微鏡中樣品桿的一般工作方式：

樣品裝載： 樣品桿通常具有一個樣品臺或夾持裝置，用于固定和裝載樣品。樣品可以是薄片、細胞切片、納米顆粒等。在裝載樣品之前，樣品通常需要進行特殊的制備，例如切割、切片、薄化和染色等，以便電子束能夠穿透樣品。

樣品定位： 在樣品裝載后，樣品桿可以調整樣品的位置和角度，以確保電子束能夠正確穿過樣品。這是非常重要的，因為透射電子顯微鏡需要準確的樣品定位來獲得清晰的圖像。

電子束透射： 一旦樣品被正確定位，透射電子束會穿過樣品，與樣品中的物質相互作用。透射電子與樣品中的原子和分子發生相互作用，產生散射和吸收，從而生成透射電子顯微圖像。

透射電子顯微圖像獲取： 透射電子束通過樣品后，進入透射電子顯微鏡的檢測系統。透射電子顯微鏡的檢測系統會記錄透射電子的強度和位置，從而形成透射電子顯微圖像。

數據分析： 獲得的透射電子顯微圖像可以用于分析樣品的內部結構、晶體結構、納米尺度特征等。通過解釋圖像中的散射和吸收信息，可以獲得關于樣品組成和性質的信息。

透射電鏡原位拉伸樣品桿

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